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Es handelt sich um die Beschaffung folgender Großgeräte für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz: 1) Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (folgend „FIB-REM“) 2) 200kV Transmissionselektronenmikroskop (folgend „TEM-200kV“) 3) 300kV doppelt-korrigiertes Transmissionselektronenmikroskop (folgend „TEM-300kV“) In den folgenden Ausführungen wird für Beschreibungen, Anforderungen und Leis-tungen, die sich auf die Einheit der drei Elektronenmikroskope beziehen, der Begriff „Messsystem“ verwendet. Die Spezifizierung von Anforderungen und Leistungen an eines der Elektronenmikroskope wird anhand der Begriffe „FIB-REM“, „TEM-200kV“ und „TEM-300kV“ konkretisiert. Das FIB-REM muss die hochwertige und schnelle TEM-Probenpräparation in Form von elektronentransparenten Lamellen gewährleisten. Dafür werden leistungsfähige Elektronen- und Ionenoptik, integrierter Nanomanipulator, sowie Gasinjektions-systeme (GIS) mit Pt, W, C und XeF2 benötigt. Für die Auswahl geeigneter Proben-stellen für die Zielpräparation und zur Abbildung der Lamellen werden umfassende Detektoren benötigt. Für ein effizientes Arbeiten mit optimaler Auslastung wird eine weitgehende Automatisierung der Herstellung von TEM-Lamellen benötigt. Das TEM-200kV wird für die Abbildung und Charakterisierung von Strukturen im Nanometerbereich, 3D-Vermessung von Defektstrukturen in Struktur- und Funktions-werkstoffen sowie zur in-situ-Beobachtung von Phasenübergängen zum Einsatz kommen. Das Gerät muss alle klassischen TEM- und STEM-Verfahren über einen weiten Vergrößerungsbereich ermöglichen. Dies beinhaltet insbesondere auch STEM mit atomar aufgelöster Elementanalyse, 4D-STEM sowie die Abbildung per DPC („differential Phase contrast“). Darüber hinaus sind Kernfunktionen des TEM-200kV die Tomographie zur 3D-Rekonstruktion von Mikrostrukturen und Elementver¬teilun-gen, die in-situ-Transmissionselektronenmikroskopie im Zusammenhang mit einem MEMS-basierten Heiz- und Biasing-Probenhalter, sowie die Möglichkeit zur funktions¬fäh
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Branche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Beschaffung von drei Elektronenmikroskopen für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz.
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Wichtige Bedingungen für Angebot und Ausführung — wie vom Auftraggeber bekannt gemacht.
Nach §160 Abs. 3 GWB ist ein Nachprüfungsantrag unzulässig, soweit: 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Die Unwirksamkeit der Zuschlagserteilung kann nach § 135 Abs. 2 GWB nur festgestellt werden, wenn sie im Nachprüfungsverfahren innerhalb von 30 Kalendertagen nach der Information der betroffenen Bieter und Bewerber durch den öffentlichen Auftraggeber über den Abschluss des Vertrags, jedoch nicht später als sechs Monate nach Vertragsschluss geltend gemacht worden ist. Hat der Auftraggeber die Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union bekannt gemacht, endet die Frist zur Geltendmachung der Unwirksamkeit 30 Kalendertage nach Veröffentlichung der Bekanntmachung der Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union.
Quelle: Bekanntmachung (eForms). Maßgeblich sind die vollständigen Vergabeunterlagen.
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Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
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