Rasterelektronenmikroskop
Freistaat Bayern, vertreten durch Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg
Beschreibung
Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB / SEM) bzw. hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät Rasterelektronenmikroskop
KI-Eignungsanalyse
KI-generiertBranche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Ausschreibung für ein gebrauchtes Rasterelektronenmikroskop (FIB/SEM oder hochauflösendes SEM) für die Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg.
Hinweis: Diese Kurzanalyse wurde automatisiert von einem KI-Modell erstellt und ist ausschließlich ein Hilfsmittel zur schnellen Orientierung. Sie ersetzt keine Prüfung der Original-Vergabeunterlagen und ist keine Eignungs- oder Rechtsberatung. Die verbindlichen Angaben entnehmen Sie bitte der Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de.
Preiseinschätzung
Basierend auf 62 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
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