Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Beschaffungsamt des BMI · Bonn · Nordrhein-Westfalen
Beschreibung
Lieferung eines Zweistrahlgeräts zur FIB / SEM für die Chipanalyse
KI-Eignungsanalyse
Branche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Ausschreibung für die Lieferung eines hochauflösenden Zweistrahlgeräts (FIB/SEM) für die Chipanalyse.
Preiseinschätzung
Basierend auf 62 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
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Verfahrensverlauf
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Vergabeergebnis
Auftrag wurde zugeschlagen
Auftragnehmer FEI Deutschland GmbHZuschlagswert 2.679.481 €1 Veröffentlichung
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