halbautomatischer Waferprober

Stammdaten

Auftraggeber

NaMLab gGmbH, Dresden

Veröffentlicht

24.04.2025

Frist (Submission)

02.06.2025

Notice-Typ

Ausschreibung

Verfahrensart

Offenes Verfahren

CPV-Code

38341300 — Labor-, optische und Präzisionsgeräte

Branche

Gesundheitswesen & Medizintechnik

Geschätzter Wert

433.000 €

Rechtsgrundlage

EU-Oberschwelle

Beschreibung

Die Ausschreibung beinhaltet die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines neuen, nicht gebrauchten halbautomatischen Wafer Prober Messsystems zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen und -schaltungen auf Wafern. Das Wafer Prober Messsystem soll geeignet sein, um extrem rauscharme elektrische Messungen mit geringem Ableitstrom im Frequenzbereich von 0 bis 10 GHz durchzuführen. Das Messsystem muss aus einem halbautomatischen Wafer Prober für 200 mm Wafer, einem Halbleiter-Analysator und einer übergreifenden Software, welche sowohl den Prober als auch den Analysator ansteuert und die Messdaten plottet und speichert, bestehen. Der Halbleiter-Analysator muss ein Gerät der Serie 4200A der Firma Keithley Instruments, LLC enthalten. Speziell sollen mit dem Halbleiter-Analysator DC IV-Charakteristiken mit Strömen bis zum fA-Bereich bzw. Spannungen bis zum sub-Mikrovolt-Bereich sowie die dynamische Strom- bzw. Spannungscharakteristik von Bauelementen erfasst werden.

Vertragslaufzeit

Beginn

16.06.2025

Ende

31.01.2026

Verfahrens-Bedingungen

Bindefrist

45 Tage

Verfahrensverlauf — alle 2 Veröffentlichungen

• Ausschreibung · Frist: 02.06.2025
• Vergabeergebnis

Zuständige Vergabekammer (laut Bekanntmachung)

1. Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Sachsen, Leipzig

Angabe aus der TED-Bekanntmachung. Im Streitfall ist die tatsächlich zuständige Vergabekammer nach §§ 155 ff. GWB maßgeblich, nicht zwingend die hier genannte.