AusschreibungsRadar

Stammdaten

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12, München
Veröffentlicht: 07.08.2026
Frist (Submission): 07.09.2026
Notice-Typ: Ausschreibung
Verfahrensart: Offenes Verfahren
CPV-Code: 31000000 — Elektrische Ausrüstung
Branche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Rechtsgrundlage: EU-Oberschwelle

Beschreibung

This specification describes the requirements for a wafer prober system to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The wafer prober system must be able to handle 200mm and 300mm wafers and in addition wafers mounted on a dicing frame (frame prober function). This allows a very flexible usage for different analysis and test situations. The wafer prober will be coupled with an automated test system (ATE).

Vertragslaufzeit

Periode: 60 Tage

Verfahrens-Bedingungen

Bindefrist: 60 Tage

Vergabe-Status

Vergabe-Status: Verfahren laufend

Verfahrensverlauf — alle 3 Veröffentlichungen

Ausschreibung · Frist: 07.09.2026
Wertung
Vergabeergebnis

Zuständige Vergabekammer (laut Bekanntmachung)

Vergabekammern des Bundes, Bonn

Angabe aus der TED-Bekanntmachung. Im Streitfall ist die tatsächlich zuständige Vergabekammer nach §§ 155 ff. GWB maßgeblich, nicht zwingend die hier genannte.

Hinweis zur Verwendung: Dieser Auszug fasst die zum Erstellungszeitpunkt verfügbaren Daten zur Vergabe zusammen. Quelle der Daten ist oeffentlichevergabe.de (Beschaffungsamt des BMI), vermittelt durch AusschreibungsRadar. Der Auszug ist eine unverbindliche Aufbereitung öffentlich zugänglicher Bekanntmachungen und keine Urkunde im Sinne der ZPO. Für rechtsverbindliche Zwecke ist immer die Original-Bekanntmachung unter dem oben angegebenen Permalink heranzuziehen. Daten können sich nach dem Erstellungszeitpunkt geändert haben (Folgeversionen, Stornierungen, Korrekturen).