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200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) - PR1227015-2440-P
Vergabe-Ergebnis
Accretech
Auftragnehmer
Hinweis: Nicht alle Kerndaten wurden publiziert — die Vergabestelle hat diese Bekanntmachung ohne Vertragswert veröffentlicht.
Das Wichtigste auf einen Blick
KI-generiert- Beschaffung eines 200 mm Wafer Probers mit Temperaturtestfunktion für Sensor-ICs und Chiplets.
- System muss 200 mm und 300 mm Wafer sowie 300 mm Dicing Frames handhaben können.
- Fokus liegt auf Genauigkeit beim Probing und Stimulation von optischen/magnetischen Sensoren, nicht auf Durchsatz.
- Zwingend erforderlich sind eine abgedunkelte DuT-Kammer und ein nicht-magnetisches Wafer-Chuck.
- Optionale Erweiterungen umfassen Trockenluftregelung, Hochspannungsvorbereitung, OCR-Lesegerät und ID-Erfassung.
KI-generierte Zusammenfassung der Bekanntmachung (KI-Transparenz) — maßgeblich ist die Original-Bekanntmachung.
Beschreibung
1 Stück 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) This specification describes the requirements for one wafer probing system to be used for characterization and test engineering for sensor ICs and chiplets at the Fraunhofer IIS. The system must allow handling of 200 mm and 300 mm wafers and 300 mm dicing frames. The focus in the usage of the machine does not depend on short handling time and high throughput, but on accuracy in probing and possibility for stimulation of optical and magnetical sensors. For stimulation of optical sensors a darkened DuT chamber is mandatory. The Wafer Chuck has to be made off non-magnetic metarials to prevent distortion while characterizing magnetic field sensors. Option: 4.2 Wafer-Spannfutter ATT-Trockenluftregelung 4.9 Wafer-Spannfutter Hochspannungsvorbereitung 5.5 Beladung OCR-Lesegerät (Oberseite) 5.6 Beladung Wafer-ID-Erfassung für Text mit Standard- und Nicht-Standard-Schriftarten, Barcode und QR-Code 9.1 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung Möglichkeit zur Fernsteuerung des Prober-Systems 9.2 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung GPIB-Schnittstelle (IEEE-488)
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