MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool
MemLog GmbH · Leipzig · Sachsen
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Beschreibung
Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine 3-dimensionale Strukturabbildung ermöglich wird und Lamellen für STEM präpariert werden können. Die chemische Zusammensetzung der Schichten und Strukturen kann mit den ebenfalls vorhandenen Methoden Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) und (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS) bestimmt werden. EDX und TOF-SIMS ergänzen sich hervorragend bei der Analytik, wobei EDX vorrangig für die quantitative chemische Analyse gebraucht wird und TOF-SIMS den Nachweis von chemischen Verbindungen bis hin zu äußerst geringen Konzentrationen erlaubt. Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool kann so auch zur Partikel- und physikalischen Fehleranalyse an fertig prozessierten Schichtsystemen und Strukturen eingesetzt werden
KI-Eignungsanalyse
KI-generiertBranche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Ausschreibung für ein hochspezialisiertes Analysegerät (SEM_FIB_TOF-SIMS Tool) zur Charakterisierung von Schichten und Strukturen mittels Elektronenmikroskopie, Ionenstrahlpräparation und Massenspektrometrie.
Hinweis nach EU AI Act Art. 50: Diese Kurzanalyse wurde automatisiert von einem KI-Modell (Google Gemini) erstellt und ist ausschließlich ein Hilfsmittel zur schnellen Orientierung. Sie ersetzt keine Prüfung der Original-Vergabeunterlagen und ist keine Eignungs- oder Rechtsberatung. Die verbindlichen Angaben entnehmen Sie bitte der Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de. Details zu unserer KI-Nutzung: KI-Transparenz.
Preiseinschätzung
Basierend auf 86 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
Verfahrensverlauf
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Vergabeergebnis
Auftrag wurde zugeschlagen · 24 Tage nach Fristende
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