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MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool

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Beschreibung

Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine 3-dimensionale Strukturabbildung ermöglich wird und Lamellen für STEM präpariert werden können. Die chemische Zusammensetzung der Schichten und Strukturen kann mit den ebenfalls vorhandenen Methoden Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) und (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS) bestimmt werden. EDX und TOF-SIMS ergänzen sich hervorragend bei der Analytik, wobei EDX vorrangig für die quantitative chemische Analyse gebraucht wird und TOF-SIMS den Nachweis von chemischen Verbindungen bis hin zu äußerst geringen Konzentrationen erlaubt. Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool kann so auch zur Partikel- und physikalischen Fehleranalyse an fertig prozessierten Schichtsystemen und Strukturen eingesetzt werden

Branche: Gesundheitswesen & Medizintechnik

Ausschreibung für ein "SEM_FIB_TOF-SIMS Tool" zur umfassenden Charakterisierung von Schichten und Strukturen mittels Elektronenmikroskopie, Ionenstrahlpräparation und chemischer Analyse (EDX, TOF-SIMS).

Das Gerät ermöglicht hochauflösende Abbildungen und detaillierte chemische Zusammensetzungsanalysen, auch für Fehleranalysen. Es werden spezifische technische Anforderungen und Nachweise zur Eignung erwartet.

Weitere Eignungskriterien: Details in der vollständigen Analyse.

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Hinweis nach EU AI Act Art. 50: Diese Kurzanalyse wurde automatisiert von einem KI-Modell (Google Gemini) erstellt und ist ausschließlich ein Hilfsmittel zur schnellen Orientierung. Sie ersetzt keine Prüfung der Original-Vergabeunterlagen und ist keine Eignungs- oder Rechtsberatung. Die verbindlichen Angaben entnehmen Sie bitte der Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de. Details zu unserer KI-Nutzung: KI-Transparenz.

Vergabe-Ergebnis

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Hinweis: Nicht alle Kerndaten wurden publiziert — die Vergabestelle hat diese Bekanntmachung ohne Auftragnehmer und ohne Vertragswert veröffentlicht.

Zuschlag erteilt, aber Auftragnehmer nicht strukturiert publiziert. Das eForms-Feld „Sieger wurde gewählt" (selec-w) ist gesetzt, die Vergabestelle hat den konkreten Auftragnehmer aber nicht als strukturiertes Datenfeld hinterlegt. In vielen Fällen steht der Name im Freitext der Original-Bekanntmachung.

Preiseinschätzung

Unteres Quartil 221.000 €

Median 276.530 €

Oberes Quartil 382.230 €

Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.

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- 09.01.2024 Original-Veröffentlichung aktuell
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