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Vergabeverfahren zur Lieferung eines Rasterkraftmikroskop
Universität Heidelberg · Heidelberg · Baden-Württemberg
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Beschreibung
Ausgeschrieben wird ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke. Neben der topographischen Charakterisierung von Proben muss das AFM für die Charakterisierung von (a) piezo- und ferroelektrischen Eigenschaften, (b) elektronischer und ionischer Leitfähigkeit, (c) Oberflächenpotentialen und (d) mechanischen Eigenschaften und für großflächige und dicke Substrate (3x3x2 cm oder mehr) einsetzbar sein. Gefordert werden zudem Messmodi, die ermöglichen, die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe genau zu steuern um sehr weiche organische Stoffe zu untersuchen, eine laterale Auflösung von sub-Nanometer bis zu einigen Dutzend µm. Ein rausch- und driftfreier Closed-Loop-Betrieb ist ein Muss, ebenso wie die Möglichkeit, die Probentemperatur von Raumtemperatur aufwärts zu steuern. Das System muss Hochspannungsbetrieb unterstützen. Entsprechende Kontrollsoftware sowie ein Steuerungs-PC müssen genauso wie Systeminstallation, Schulung und Lieferung Teil des Angebots sein. Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zur Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 350.000,00 EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar, Zoll und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden. Kalkulatorisch anzugebende Mehrwertsteuer und Zollgebühren sind Bestandteil des Grenzwerts.
KI-Eignungsanalyse
KI-generiertBranche: Bildung & Forschung
Ausschreibung für ein Lasersystem zur Durchführung eines Atominterferometers.
Hinweis nach EU AI Act Art. 50: Diese Kurzanalyse wurde automatisiert von einem KI-Modell (Google Gemini) erstellt und ist ausschließlich ein Hilfsmittel zur schnellen Orientierung. Sie ersetzt keine Prüfung der Original-Vergabeunterlagen und ist keine Eignungs- oder Rechtsberatung. Die verbindlichen Angaben entnehmen Sie bitte der Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de. Details zu unserer KI-Nutzung: KI-Transparenz.
Weitere Pflichtangaben aus der Bekanntmachung
„Ausgeschrieben wird ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke. Neben der topographischen Charakterisierung von Proben muss das AFM für die Charakterisierung von (a) piezo- und ferroelektrischen Eigenschaften, (b) elektronischer und ionischer Leitfähigkeit, (c) Oberflächenpotentialen und (d) mechanischen Eigenschaften und für großflächige und dicke Substrate (3x3x2 cm oder mehr) einsetzbar sein. Gefordert werden zudem Messmodi, die ermöglichen, die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe genau zu steuern um sehr weiche organische Stoffe zu untersuchen, eine laterale Auflösung von sub-Nanometer bis zu einigen Dutzend µm. Ein rausch- und driftfreier Closed-Loop-Betrieb ist ein Muss, ebenso wie die Möglichkeit, die Probentemperatur von Raumtemperatur aufwärts zu steuern. Das System muss Hochspannungsbetrieb unterstützen. Entsprechende Kontrollsoftware sowie ein Steuerungs-PC müssen genauso wie Systeminstallation, Schulung und Lieferung Teil des Angebots sein. Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zur Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 350.000,00 EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar, Zoll und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden. Kalkulatorisch anzugebende Mehrwertsteuer und Zollgebühren sind Bestandteil des Grenzwerts.“
Zuschlagskriterien
Wonach der Auftraggeber das wirtschaftlichste Angebot ermittelt.
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Gesamtwertungspreis 80 %Preis
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Energieeffizienz 20 %Qualität
Quelle: Bekanntmachung (eForms) — Gewichtung wie vom Auftraggeber veröffentlicht.
Verfahrensverlauf
📅 .icsVollständige Historie dieses Vergabeverfahrens — alle Phasen und Veröffentlichungen.
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Ausschreibung Sie sind hier
Angebote werden eingeholt
4 Veröffentlichungen
- 22.07.2024 Auch in TED EU publiziert
- Frist 26.07.2024 Aufgrund des Zeitbedarfs für die Beantwortung der Bieterfragen wird die Angebotsfrist bis zum 26.07.2024 / 10:00 Uhr verlängert. Es erfolgt eine Anpassung der Vergabeunterlagen unter Punkt 1.6. Aufgrund der Anpassung der Angebotsfrist erfolgt auch eine Anpassung der Bindefrist.
- Frist 23.07.2024 Original-Veröffentlichung aktuell
- 28.06.2024 Auch in oeffentlichevergabe.de publiziert
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Vergabeergebnis
Auftrag wurde zugeschlagen · 31 Tage nach Fristende
Auftragnehmer Oxford Instruments GmbH2 Veröffentlichungen
Preiseinschätzung
Basierend auf 1.047 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
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