Lot-Detail aus Schwester-Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de (gleiche procedure_id).
KI-generierte Zusammenfassung der Bekanntmachung (KI-Transparenz) — maßgeblich ist die Original-Bekanntmachung.
Die Ausschreibung beinhaltet die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines neuen, nicht gebrauchten halbautomatischen Wafer Prober Messsystems zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen und -schaltungen auf Wafern. Das Wafer Prober Messsystem soll geeignet sein, um extrem rauscharme elektrische Messungen mit geringem Ableitstrom im Frequenzbereich von 0 bis 10 GHz durchzuführen. Das Messsystem muss aus einem halbautomatischen Wafer Prober für 200 mm Wafer, einem Halbleiter-Analysator und einer übergreifenden Software, welche sowohl den Prober als auch den Analysator ansteuert und die Messdaten plottet und speichert, bestehen. Der Halbleiter-Analysator muss ein Gerät der Serie 4200A der Firma Keithley Instruments, LLC enthalten. Speziell sollen mit dem Halbleiter-Analysator DC IV-Charakteristiken mit Strömen bis zum fA-Bereich bzw. Spannungen bis zum sub-Mikrovolt-Bereich sowie die dynamische Strom- bzw. Spannungscharakteristik von Bauelementen erfasst werden.
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Wonach der Auftraggeber das wirtschaftlichste Angebot ermittelt hat — bekanntgegeben in der Ausschreibung zu diesem Verfahren.
Neben dem Preis waren technische Kriterien in den Unterlagen als Zuschlagskriterien genannt.
Quelle: Bekanntmachung (eForms) — Gewichtung wie vom Auftraggeber veröffentlicht.
Vollständige Historie dieses Vergabeverfahrens — alle Phasen und Veröffentlichungen.
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