AusschreibungsRadar

Stammdaten

Auftraggeber: NaMLab gGmbH
Veröffentlicht: 12.08.2025
Notice-Typ: Vergabeergebnis
Verfahrensart: Offenes Verfahren
CPV-Code: 38341300 — Labor-, optische und Präzisionsgeräte
Branche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Zuschlagswert: 432.880 €
Rechtsgrundlage: EU-Oberschwelle

Beschreibung

Die Ausschreibung beinhaltet die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines neuen, nicht gebrauchten halbautomatischen Wafer Prober Messsystems zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen und -schaltungen auf Wafern. Das Wafer Prober Messsystem soll geeignet sein, um extrem rauscharme elektrische Messungen mit geringem Ableitstrom im Frequenzbereich von 0 bis 10 GHz durchzuführen. Das Messsystem muss aus einem halbautomatischen Wafer Prober für 200 mm Wafer, einem Halbleiter-Analysator und einer übergreifenden Software, welche sowohl den Prober als auch den Analysator ansteuert und die Messdaten plottet und speichert, bestehen. Der Halbleiter-Analysator muss ein Gerät der Serie 4200A der Firma Keithley Instruments, LLC enthalten. Speziell sollen mit dem Halbleiter-Analysator DC IV-Charakteristiken mit Strömen bis zum fA-Bereich bzw. Spannungen bis zum sub-Mikrovolt-Bereich sowie die dynamische Strom- bzw. Spannungscharakteristik von Bauelementen erfasst werden.

Vertragslaufzeit

Periode: 6 Monate

Vergabe-Status

Auftragnehmer: Automatisierungstechnik Voigt

Verfahrensverlauf — alle 2 Veröffentlichungen

Ausschreibung · Frist: 02.06.2025
Vergabeergebnis

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